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Omni-FD系列像差校正光柵光譜儀

產(chǎn)品概述

北京卓立漢光儀器有限公司推出基于平場(chǎng)光柵的像差校正光柵光譜儀，可以為客戶提供1-80nm信號(hào)測(cè)量方案，解決從軟x射線-極紫外-真空紫外信號(hào)分析。該譜儀同時(shí)提供相應(yīng)相機(jī)接口，可以配合真空相機(jī)（國(guó)產(chǎn)或進(jìn)口）或是MCP板進(jìn)行不同能量信號(hào)的測(cè)試。可應(yīng)用于極紫外信號(hào)標(biāo)定，高次諧波等高能實(shí)驗(yàn)。

本譜儀提供三種光柵，可以分別測(cè)試1-5nm，5-20nm以及20-80nm的信號(hào)測(cè)量，設(shè)備占空間小，并且接受個(gè)性化定制，可以完*配合您的實(shí)驗(yàn)。

譜儀基本參數(shù)：

· 入射角度 87度

· 適用設(shè)備 MCP（微通道板）或直接真空相機(jī)

· 真空度 低于10E-5Pa

· 光柵尺寸 50X30mm

· 獨(dú)*的進(jìn)光口設(shè)計(jì)，可解決入口雜散光干擾問(wèn)題

· 獨(dú)*的譜線校準(zhǔn)方案

· 根據(jù)測(cè)試不同波長(zhǎng)能量提供多種光柵

· 探測(cè)面可連續(xù)可調(diào)，方便不同探測(cè)器焦深

· 獨(dú)*的零級(jí)干擾去除方案

1200g/mm光柵衍射示意圖：

光柵信息：